天瑞儀器 EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀

天瑞儀器 EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀

性能優(yōu)勢

高分辨率：
采用SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規(guī)的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

高準確度，性能優(yōu)：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率大可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

清晰攝像頭，準確定位：
采用新型工業(yè)級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現精準定位。

小準直器，輕松實現精小部位測試：
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，可輕松實現精小部位的準確測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。

一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。

技術參數

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm級
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：139±5eV

儀器配置

移動樣品平臺
SDD探測器
數字多道分析系統
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質量：45Kg

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

天瑞儀器 EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀